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| MOQ: | 1個 |
| 価格: | USD 5000-8000 / Piece |
| 標準パッケージ: | カスタムフォームインサートを備えたオリジナルのMichellハードキャリングケース、輸出グレードの段ボール箱 |
| 配達期間: | 在庫に5〜10営業日、生産に30〜45日 |
| 決済方法: | T/T、L/C、ペイパル、ウェスタンユニオン |
| 供給能力: | 月あたり200個 |
MDM300 I.S.は,幅広い産業用用途で,露点と水分含有量の迅速かつ信頼性の高い現場点検測定のために設計された,先進的なポータブル露点計です.ミッチェルの独占のセラミックインペデンスセンサー技術で構築された特殊な精度,迅速な応答時間,そして厳しいフィールド条件の耐久性を保証します
MDM300 I.S.は,ATEX,IECEx,FM,CSA,GOSTの承認で危険地帯での使用に認定されている.Michell Easidew TX I.S.またはEasidew PRO I.S.に接続するためのジャンクションボックスが付属している.プロセスのシャットダウンなしの校正検証用の送信機標準MDM300は危険でない用途にも利用できます.
MDM300は,シンプルな低圧固定孔式セットアップから350bargまで完全に構成可能な高圧システムまで,幅広いサンプリング構成をサポートする.圧縮空気の利用可能なアプリケーション特有のサンプルキット医療用ガス,SF6スイッチガス,天然ガス
| 測定範囲 | -100から+20°Cdp (校正) +30°Cdpまで読み取れる |
| 精度 | ±1 °Cdp (-60 °Cから +20 °C), ±2 °Cdp (-100 °Cから -60 °C) |
| センサー技術 | セラミック・インペデンス (薄膜) |
| 応答時間 | T95 < 12分〜 -70 °Cdp (I.S.) |
| バッテリー | NiMH 4.8V, 24h (I.S.) / 48h (Std) |
| 圧力を指定する | 35 MPa (350 バーグ) |
| 保護 | IP66 / NEMA 4 |
| ガス接続 | 1/8インチ NPT 女性 |
| 体重 | 1.5kg |
| ディスプレイ | グラフィックディスプレイのブルーLCD |
| カリブレーション | 13点追跡可能 (NPL,NIST) |
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| MOQ: | 1個 |
| 価格: | USD 5000-8000 / Piece |
| 標準パッケージ: | カスタムフォームインサートを備えたオリジナルのMichellハードキャリングケース、輸出グレードの段ボール箱 |
| 配達期間: | 在庫に5〜10営業日、生産に30〜45日 |
| 決済方法: | T/T、L/C、ペイパル、ウェスタンユニオン |
| 供給能力: | 月あたり200個 |
MDM300 I.S.は,幅広い産業用用途で,露点と水分含有量の迅速かつ信頼性の高い現場点検測定のために設計された,先進的なポータブル露点計です.ミッチェルの独占のセラミックインペデンスセンサー技術で構築された特殊な精度,迅速な応答時間,そして厳しいフィールド条件の耐久性を保証します
MDM300 I.S.は,ATEX,IECEx,FM,CSA,GOSTの承認で危険地帯での使用に認定されている.Michell Easidew TX I.S.またはEasidew PRO I.S.に接続するためのジャンクションボックスが付属している.プロセスのシャットダウンなしの校正検証用の送信機標準MDM300は危険でない用途にも利用できます.
MDM300は,シンプルな低圧固定孔式セットアップから350bargまで完全に構成可能な高圧システムまで,幅広いサンプリング構成をサポートする.圧縮空気の利用可能なアプリケーション特有のサンプルキット医療用ガス,SF6スイッチガス,天然ガス
| 測定範囲 | -100から+20°Cdp (校正) +30°Cdpまで読み取れる |
| 精度 | ±1 °Cdp (-60 °Cから +20 °C), ±2 °Cdp (-100 °Cから -60 °C) |
| センサー技術 | セラミック・インペデンス (薄膜) |
| 応答時間 | T95 < 12分〜 -70 °Cdp (I.S.) |
| バッテリー | NiMH 4.8V, 24h (I.S.) / 48h (Std) |
| 圧力を指定する | 35 MPa (350 バーグ) |
| 保護 | IP66 / NEMA 4 |
| ガス接続 | 1/8インチ NPT 女性 |
| 体重 | 1.5kg |
| ディスプレイ | グラフィックディスプレイのブルーLCD |
| カリブレーション | 13点追跡可能 (NPL,NIST) |
